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產品型號：TSE320-S
更新時間：2024-12-28
TSE320-S快速型一鍵閃測量儀
產品簡介
TSE-300系列拼接式閃測儀采用雙遠心光學系統，結合高精度圖像拼接測量算法。不僅能快速測量產品的平面尺寸和形位公差，還可搭配鐳射（點激光、線激光）測量段差、深度和平面度等尺寸。儀器量測范圍可達300*200mm，測量效率是傳統影像儀器的10-20倍
1）超高的效率，單次可拼接測量300*200mm的范圍，可同時測量上百個產品。30s內即可測量上千個尺寸，效率是傳統儀器的10-20倍。
2）優秀的模板匹配功能，產品可任意擺放，無需治具。具有多種模板匹配模式，確保復雜工件都能夠精準匹配。
3）強大的拼接測量功能，可支持多圖層、多光源切換拼接，不僅可以測量薄片類產品，還可以測量有一定厚度的產品。
4）完善的測量工具，可直接測量點、線、圓、弧、輪廓；豐富的構造工具包含相交、相切、垂直、平行、鏡像、平移、旋轉；
5）完善的坐標體系，支持工件多重坐標系，支持坐標平移、旋轉、調用；
6）支持點激光、線激光，可同時測量高度差、深度、平面度。
TSE320-S快速型一鍵閃測量儀
| 項目 | 參數 | |
| 型號 | TSE320-S | |
| 測量范圍 | 范圍 | 280*170mm ；240*150mm（9圖拼接） |
| 單視野 | 82*55mm | |
| 移動行程(X/Y/Z) | 200mm * 120mm * 75mm | |
| 測量精度 | 有拼接 | ±(4.5+L/150)μm |
| 無拼接 | ±3μm | |
| *標準件為被測產品 | ||
| 光學鏡頭 | 雙遠心光學鏡頭 | |
| 圖像傳感器 | 2000萬像素 | |
| 軟件 | 基于機器學習的圖像輪廓匹配算法 | |
| 亞像素精度幾何測量算法 | ||
| 非線性光學系統畸變校正算法 | ||
| 多核、多 CPU、GPU 等圖像加速處理算法 | ||
| 外形尺寸 | 540mm * 465mm * 760mm | |
| 電源 | AC 220V±10% 50Hz | |
| 環境要求 | 溫度(T)：20±2℃；相對濕度(RH)：30--80% | |
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